使用：

用于微米和納米級結(jié)構(gòu)面表面測量的快速高精度干涉儀解決方案;包括階梯曲面和自由曲面。

優(yōu)勢：

當您需要在生產(chǎn)中實現(xiàn)微米和納米級表面特征的質(zhì)量控制時，干涉測量具有高速、高精度和無接觸等優(yōu)勢。如果特征包括步長和自由形式，干涉測量也可以為您提供所需的數(shù)據(jù)。

為特定功能設(shè)計的結(jié)構(gòu)化表面或意外特征（如表面損壞或不需要的顆粒）在越來越精確的產(chǎn)品中起著關(guān)鍵作用。需要及時的表面數(shù)據(jù)來支持有效的生產(chǎn)。我們擁有干涉儀解決方案，可在您需要時提供您需要的測量數(shù)據(jù)。

這些系統(tǒng)提供您所需的測量功能以及直接集成到生產(chǎn)環(huán)境中的能力。

特點；

<1秒內(nèi)完成在線自動測量。

特征提取。

用戶可選擇采樣、趨勢圖和公差設(shè)置。

質(zhì)量報告。

用于工業(yè) 4.0 集成的 TCP-IP 通信。

可選的 X、Y、Z 定位平臺。

用于卷對卷應用的浮動輥選項。